Keysight (Agilent) 4294A - Прецизионный анализатор импеданса
- Точные измерения импеданса в широких пределах в широком диапазоне частот
- Основная погрешность измерения импеданса: ±0,08%
- Диапазон частот: от 40 Гц до 110 МГц; пределы измерения импеданса: от 3 мОм до 500 МОм
- Мощная функция анализа импеданса
- Простота использования и гибкие возможности подключения к ПК
- Пределы погрешности измерения 30%): 3 мОм (от 100 Гц до 110 МГц), 500 МОм (от 100 Гц до 200 кГц), тип. значение
Общие сведения
- Основная погрешность измерений импеданса: ±0,08%
Частота
- Диапазон частот испытательного сигнала: от 40 Гц до 110 МГц
Другие возможности
- Точные измерения в широком диапазоне импеданса и частот испытательного сигнала
- Мощные возможности по анализу импеданса
- Простота использования и гибкие возможности подключения к компьютеру
Прецизионный анализатор импеданса Agilent 4294A представляет собой комплексное решение для измерения импеданса и анализа компонентов и схем. Анализатор 4294A охватывает широкий диапазон частот испытательного сигнала (от 40 Гц до 110 МГц) и обеспечивает основную погрешность измерения импеданса на уровне ±0,08%. Высокая точность измерения больших значений добротности (Q) и низких значений тангенса угла потерь (D) позволяет осуществлять анализ компонентов с малыми потерями. Широкие пределы установки уровней испытательного сигнала позволяют оценивать характеристики устройств в реальных условиях эксплуатации. Диапазон установки уровней испытательного сигнала находится в пределах от 5 мВ до 1 В (СКЗ) или от 200 мкА до 20 мА (СКЗ), а пределы установки смещения по постоянному току составляют от 0 В до ±40 В или от 0 мА до ±100 мА. Расширенные функции калибровки и коррекции ошибок позволяют компенсировать факторы, вызывающие ошибки при выполнении измерений с помощью тестовых приспособлений. Анализатор 4294A представляет собой мощный инструмент для тестирования электронных компонентов в процессе разработки и производства, аттестации и контроля качества готовых изделий. Благодаря высокой производительности прибора и его широким функциональным возможностям разработчики микросхем смогут более эффективно осуществлять тестирование новых устройств.