Радиоизмерительные приборы
АМ-3128
Подробные характеристики (PDF)
АМ-3128 - Измеритель RLC, Актаком
Артикул:
АМ-3128
- Цифровой измеритель RLC.
- Измеряемые параметры: первичные L, C, R, Z, вторичные X, D, Q, Θ, ESR.
- Диапазон измерения сопротивления 0...20 МОм, емкости 0...20 мФ, индуктивности 0...1000 Гн.
- Частота тест-сигнала: 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц.
- Базовая погрешность 0,25%.
- Скорость измерения: до 4 изм/с.
- Схема измерения: 2- и 4-проводная.
- Режим относительных измерений. Регистрация MAX, MIN, AVG.
- Режим сортировки компонентов.
- Эквивалентная схема: последовательная, параллельная.
- Интерфейс mini-USB.
- Дисплей 2,8” LCD TFT, 4 1/2.
- Питание: аккумуляторная батарея и адаптер/зарядное устройство.
- Габаритные размеры 190х90х41 мм, масса 0,4 кг.
Получить ТКП
Снят с производства
Подробные характеристики (PDF)
Измерение емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь D
|
Частота испытательного сигнала |
Поддиапазон измерений |
Отображаемый диапазон |
Пределы абсолютной погрешности измерений |
Эквивалентная схема измерений |
|
|
C |
De* |
||||
|
100, 120 Гц |
20 мФ |
4,000 мФ...20,000 мФ |
±(0,08Cx + 5 е.м.р) |
±0,0800 |
последовательная |
|
4 мФ |
400,0 мкФ...3,9999 мФ |
±(0,02Cx + 3 е.м.р) |
±0,0200 |
последовательная |
|
|
400 мкФ |
40,00 мкФ...399,99 мкФ |
±(0,006Cx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
последовательная |
|
|
40 мкФ |
4,000 мкФ...39,999 мФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная |
|
|
4 мкФ |
400,0 нФ...3,9999 мкФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная или параллельная |
|
|
400 нФ |
40,00 нФ...399,99 нФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
параллельная |
|
|
40 нФ |
4,000 нФ...39,999 нФ |
±(0,005Cx + 3 е.м.р) |
±0,0050 |
параллельная |
|
|
4 нФ |
0 пФ...3,999 нФ |
±(0,015Cx + 5 е.м.р) |
- |
параллельная |
|
|
1 кГц |
1000 мкФ |
400,0 мкФ...999,9 мкФ |
±(0,03Cx + 5 е.м.р) |
±0,0300 |
последовательная |
|
400 мкФ |
40,00 мкФ...399,99 мкФ |
±(0,015Cx + 3 е.м.р) |
±0,0150 |
последовательная |
|
|
40 мкФ |
4,000 мкФ...39,999 мкФ |
±(0,006Cx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
последовательная |
|
|
4 мкФ |
400,0 нФ...3,9999 мкФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная или параллельная |
|
|
400 нФ |
40,00 нФ...399,99 нФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
параллельная |
|
|
40 нФ |
4,000 нФ...39,999 нФ |
±(0,006Cx + 3 е.м.р) |
±0,0060 |
параллельная |
|
|
4 нФ |
400,0 пФ...3,9999 нФ |
±(0,006Cx + 3 е.м.р) |
±0,0060 |
параллельная |
|
|
400 пФ |
0,0 пФ...399,9 пФ |
±(0,03Cx + 5 е.м.р) |
- |
параллельная |
|
|
10 кГц |
100 мкФ |
40,00 мкФ...100,00 мкФ |
±(0,04Cx + 5 е.м.р) |
±0,0400 |
последовательная |
|
40 мкФ |
4,000 мкФ...39,999 мкФ |
±(0,02Cx + 3 е.м.р) |
±0,0200 |
последовательная |
|
|
4 мкФ |
400,0 нФ...3,9999 мкФ |
±(0,006Cx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
последовательная |
|
|
400 нФ |
40,00 нФ...399,99 нФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная |
|
|
40 нФ |
4,000 нФ...39,999 нФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная или параллельная |
|
|
4 нФ |
400,0 пФ...3,9999 нФ |
±(0,004Cx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
параллельная |
|
|
400 пФ |
40,00 пФ...399,99 пФ |
±(0,006Cx + 3 е.м.р) |
±0,0060 |
параллельная |
|
|
40 пФ |
0,00 пФ...39,99 пФ |
±(0,025Cx + 5 е.м.р) |
- |
параллельная |
|
|
40 кГц |
100 мкФ |
40,00 мкФ...100,00 мкФ |
±(0,06Cx + 5 е.м.р) |
±0,0600 |
последовательная |
|
40 мкФ |
4,000 мкФ...39,999 мкФ |
±(0,04Cx + 3 е.м.р) |
±0,0400 |
последовательная |
|
|
4 мкФ |
400,0 нФ...3,9999 мкФ |
±(0,01Cx + 2 е.м.р) |
±0,0100 |
последовательная |
|
|
400 нФ |
40,00 нФ...399,99 нФ |
±(0,006Cx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
последовательная |
|
|
40 нФ |
4,000 нФ...39,999 нФ |
±(0,006Cx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
последовательная или параллельная |
|
|
4 нФ |
400,0 пФ...3,9999 нФ |
±(0,006Cx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
параллельная |
|
|
400 пФ |
40,00 пФ...399,99 пФ |
±(0,01Cx + 3 е.м.р) |
±0,0100 |
параллельная |
|
|
40 пФ |
0,000 пФ...39,999 пФ |
±(0,03Cx + 5 е.м.р) |
- |
параллельная |
|
|
100 кГц |
10 мкФ |
4,000 мкФ...10,000 мкФ |
±(0,08Cx + 20 е.м.р) |
±0,0800 |
последовательная |
|
4 мкФ |
400,0 нФ...3,9999 мкФ |
±(0,05Cx + 10 е.м.р) |
±0,050 |
последовательная |
|
|
400 нФ |
40,00 нФ...399,99 нФ |
±(0,015Cx + 5 е.м.р) |
±0,0150 |
последовательная |
|
|
40 нФ |
4,000 нФ...39,999 нФ |
±(0,01Cx + 2 е.м.р) |
±0,0100 |
последовательная |
|
|
4 нФ |
400,0 пФ...3,999 нФ |
±(0,01Cx + 2 е.м.р) |
±0,0100 |
последовательная или параллельная |
|
|
400 пФ |
40,00 пФ...399,99 пФ |
±(0,015Cx + 2 е.м.р) |
±0,0150 |
параллельная |
|
|
40 пФ |
4,000 пФ...39,999 пФ |
±(0,02Cx + 5 е.м.р) |
±0,0200 |
параллельная |
|
|
4 пФ |
0,000 пФ...3,999 пФ |
±(0,05Cx + 10 е.м.р) |
- |
параллельная |
|
* – погрешность измерений тангенса угла диэлектрических потерь (De) нормируется для D < 0,5. Сх – измеренное значение емкости.
Измерение индуктивности L и добротности Q
|
Частота испытательного сигнала |
Поддиапазон измерений |
Отображаемый диапазон |
Пределы абсолютной погрешности измерений |
Эквивалентная схема измерений |
|
|
L |
De* |
||||
|
100 Гц, 120 Гц |
1000 Гн |
400,0 Гн...999,9 Гн |
±(0,02Lx + 3 е.м.р) |
±0,0200 |
параллельная |
|
400 Гн |
40,000 Гн...399,99 Гн |
±(0,006Lx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
параллельная |
|
|
40 Гн |
4,000 Гн...39,999 Гн |
±(0,004L + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
параллельная |
|
|
4 Гн |
400,0 мГн...3,9999 Гн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная или параллельная |
|
|
400 мГн |
40,00 мГн...399,99 мГн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная |
|
|
40 мГн |
4,000 мГн...39,999 мГн |
±(0,006Lx + 3 е.м.р) |
±0,0060 |
последовательная |
|
|
4 мГН |
0 мкГн...3,999 мГн |
±(0,03Lx + 5 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
|
1 кГц |
100 Гн |
40,00 Гн...100,00 Гн |
±(0,02x + 3 е.м.р) |
±0,0200 |
параллельная |
|
40 Гн |
4,000 Гн...39,999 Гн |
±(0,006Lx + 2 е.м.р) |
±0,0060 |
параллельная |
|
|
4 Гн |
400,0 мГн...3,9999 Гн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
параллельная |
|
|
400 мГн |
40,00 мГн...399,99 мГн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная или параллельная |
|
|
40 мГн |
4,000 мГн...39,999 мГн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная |
|
|
4 мГн |
400,0 мкГн...3,9999 мГн |
±(0,01Lx + 3 е.м.р) |
±0,0100 |
последовательная |
|
|
400 мкГн |
0,0 мкГн...399,9 мкГн |
±(0,03Lx + 5 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
|
10 кГц |
1 Гн |
400,0 мГн...999,9 мГн |
±(0,015Lx + 3 е.м.р) |
±0,0150 |
параллельная |
|
400 мГн |
40,00 мГн...399,99 мГн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
параллельная |
|
|
40 мГн |
4,000 мГн...39,999 мГн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная или параллельная |
|
|
4 мГн |
400,0 мкГн...3,9999 мГн |
±(0,004Lx + 2 е.м.р) |
±0,0040 |
последовательная |
|
|
400 мкГн |
40,00 мкГн...399,99 мкГн |
±(0,008Lx + 3 е.м.р) |
±0,0080 |
последовательная |
|
|
40 мкГн |
0,00 мкГн...39,99 мкГн |
±(0,03Lx + 5 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
|
40 кГц |
1 Гн |
400,0 мГн...999,9 мГн |
±(0,02Lx + 4 е.м.р) |
±0,0200 |
параллельная |
|
400 мГн |
40,00 мГн...399,99 мГн |
±(0,008Lx + 2 е.м.р) |
±0,0080 |
параллельная |
|
|
40 мГн |
4,000 мГн...39,999 мГн |
±(0,008Lx + 2 е.м.р) |
±0,0080 |
последовательная или параллельная |
|
|
4 мГн |
400,0 мкГн...3,9999 мГн |
±(0,008Lx + 2 е.м.р) |
±0,0080 |
последовательная |
|
|
400 мкГн |
40,00 мкГн...399,99 мкГн |
±(0,015Lx + 3 е.м.р) |
±0,0150 |
последовательная |
|
|
40 мкГн |
0,00 мкГн...39,999 мкГн |
±(0,04Lx + 5 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
|
100 кГц |
100 мГн |
40,00 мГн...399,99 мГн |
±(0,025Lx + 2 е.м.р) |
±0,0250 |
параллельная |
|
40 мГн |
4,000 мГн...39,999 мГн |
±(0,015Lx + 2 е.м.р) |
±0,0150 |
параллельная |
|
|
4 мГн |
400,0 мкГн...3,9999 мГн |
±(0,01Lx + 2 е.м.р) |
±0,0100 |
последовательная или параллельная |
|
|
400 мкГн |
40,00 мкГн...399,99 мкГн |
±(0,01Lx + 2 е.м.р) |
±0,0100 |
последовательная |
|
|
40 мкГн |
4,000 мкГн...39,999 мкГн |
±(0,015Lx + 5 е.м.р) |
±0,0150 |
последовательная |
|
|
4 мкГн |
0,000 мкГн...3,999 мкГн |
±(0,04Lx + 10 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
* - погрешность измерений добротности (Qе) нормируется для Qx × Dе ≤ 0,25 и вычисляется по формуле: Qе=±(Qx2 × De)/(1±Qx × De)
Lх – измеренное значение индуктивности, Qx – измеренное значение добротности.
Измерение активного сопротивления R
|
Частота испытательного сигнала |
Поддиапазон измерений |
Отображаемый диапазон |
Пределы абсолютной погрешности измерений |
Эквивалентная схема измерений |
|
100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 КГц |
20 MОм |
4,000 МОм...20,000 МОм |
±(0,03Rx + 10 е.м.р) |
параллельная |
|
4 MОм |
400,0 кОм...3,9999 МОм |
±(0,012Rx + 3 е.м.р) |
параллельная |
|
|
400 кОм |
40,00 кОм...399,99 кОм |
±(0,003Rx + 3 е.м.р) |
параллельная |
|
|
40 кОм |
4,000 кОм...39,999 кОм |
±(0,0025Rx + 2 е.м.р) |
последовательная или параллельная |
|
|
4 кОм |
400,0 Ом...3,9999 кОм |
±(0,0025Rx + 2 е.м.р) |
последовательная |
|
|
400 Ом |
40,00 Ом...399,99 Ом |
±(0,0025Rx + 2 е.м.р) |
последовательная |
|
|
40 Ом |
4,000 Ом...39,999 Ом |
±(0,005Rx + 3 е.м.р) |
последовательная |
|
|
4 Ом |
0,4000 Ом...3,9999 Ом |
±(0,02Rx + 3 е.м.р) |
последовательная |
|
|
0,4 Ом |
0,0000 Ом...0,3999 Ом |
±(0,04Rx + 3 е.м.р) |
последовательная |
|
|
40 кГц |
20 MОм |
4,000 МОм...20,000 МОм |
±(0,07Rx + 41 е.м.р) |
параллельная |
|
4 MОм |
400,0 кОм...3,9999 МОм |
±(0,025Rx + 3 е.м.р) |
параллельная |
|
|
400 кОм |
40,00 кОм...399,99 кОм |
±(0,01Rx + 4 е.м.р) |
параллельная |
|
|
40 кОм |
4,000 кОм...39,999 кОм |
±(0,01Rx + 4 е.м.р) |
последовательная или параллельная |
|
|
4 кОм |
400,0 Ом...3,9999 кОм |
±(0,005Rx + 3 е.м.р) |
последовательная |
|
|
400 Ом |
40,00 Ом...399,99 Ом |
±(0,005Rx + 3 е.м.р) |
последовательная |
|
|
40 Ом |
4,000 Ом...39,999 Ом |
±(0,007Rx + 4 е.м.р) |
последовательная |
|
|
4 Ом |
0,4000 Ом...3,9999 Ом |
±(0,02Rx + 6 е.м.р) |
последовательная |
|
|
0,4 Ом |
0,0000 Ом...0,3999 Ом |
±(0,05Rx + 10 е.м.р) |
последовательная |
|
|
100 кГц |
20 MОм |
4,000 МОм...20,000 МОм |
±(0,09Rx + 20 е.м.р) |
параллельная |
|
4 MОм |
400,0 кОм...3,9999 МОм |
±(0,04Rx + 10 е.м.р) |
параллельная |
|
|
400 кОм |
40,00 кОм...399,99 кОм |
±(0,015Rx + 4 е.м.р) |
параллельная |
|
|
40 кОм |
4,000 кОм...39,999 кОм |
±(0,01Rx + 2 е.м.р) |
параллельная |
|
|
4 кОм |
400,0 Ом...3,9999 кОм |
±(0,007Rx + 2 е.м.р) |
последовательная или параллельная |
|
|
400 Ом |
40,00 Ом...399,99 Ом |
±(0,007Rx + 2 е.м.р) |
последовательная |
|
|
40 Ом |
4,000 Ом...39,999 Ом |
±(0,01Rx + 5 е.м.р) |
последовательная |
|
|
4 Ом |
0,4000 Ом...3,9999 Ом |
±(0,03Rx + 10 е.м.р) |
последовательная |
|
|
0,4 Ом |
0,0000 Ом...0,3999 Ом |
±(0,07Rx + 20 е.м.р) |
последовательная |
Rх – измеренное значение импеданса.
Измерение импеданса Z и фазового угла Θ
|
Частота испытательного сигнала |
Поддиапазон измерений |
Отображаемый диапазон |
Пределы абсолютной погрешности измерений |
Эквивалентная схема измерений |
|
|
Z |
Θ |
||||
|
100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 КГц |
20 MОм |
4,000 МОм...20,000 МОм |
±(0,03Zx + 10 е.м.р) |
3,4° |
параллельная |
|
4 MОм |
400,0 кОм...3,9999 МОм |
±(0,012Zx + 3 е.м.р) |
0,7° |
параллельная |
|
|
400 кОм |
40,00 кОм...399,99 кОм |
±(0,003Zx + 3 е.м.р) |
0,2° |
параллельная |
|
|
40 кОм |
4,000 кОм...39,999 кОм |
±(0,0025Zx + 2 е.м.р) |
0,1° |
последовательная или параллельная |
|
|
4 кОм |
400,0 Ом...3,9999 кОм |
±(0,0025Zx + 2 е.м.р) |
0,1° |
последовательная |
|
|
400 Ом |
40,00 Ом...399,99 Ом |
±(0,0025Zx + 2 е.м.р) |
0.1° |
последовательная |
|
|
40 Ом |
4,000 Ом...39,999 Ом |
±(0,005Zx + 3 е.м.р) |
0,3° |
последовательная |
|
|
4 Ом |
0,4000 Ом...3,9999 Ом |
±(0,02Zx + 3 е.м.р) |
1,1° |
последовательная |
|
|
0,4 Ом |
0,0000 Ом...0,3999 Ом |
±(0,04Zx + 3 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
|
40 кГц |
20 MОм |
4,000 МОм...20,000 МОм |
±(0,07Zx + 41 е.м.р) |
4,0° |
параллельная |
|
4 MОм |
400,0 кОм...3,9999 МОм |
±(0,025Zx + 3 е.м.р) |
1,4° |
параллельная |
|
|
400 кОм |
40,00 кОм...399,99 кОм |
±(0,01Zx + 4 е.м.р) |
0,6° |
параллельная |
|
|
40 кОм |
4,000 кОм...39,999 кОм |
±(0,01Zx + 4 е.м.р) |
0,6° |
последовательная или параллельная |
|
|
4 кОм |
400,0 Ом...3,9999 кОм |
±(0,005Zx + 3 е.м.р) |
0,3° |
последовательная |
|
|
400 Ом |
40,00 Ом...399,99 Ом |
±(0,005Zx + 3 е.м.р) |
0,3° |
последовательная |
|
|
40 Ом |
4,000 Ом...39,999 Ом |
±(0,007Zx + 4 е.м.р) |
0,4° |
последовательная |
|
|
4 Ом |
0,4000 Ом...3,9999 Ом |
±(0,02Zx + 6 е.м.р) |
1,1° |
последовательная |
|
|
0,4 Ом |
0,0000 Ом...0,3999 Ом |
±(0,05Zx + 10 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
|
100 кГц |
20 MОм |
4,000 МОм...20,000 МОм |
±(0,09Zx + 20 е.м.р) |
5,2° |
параллельная |
|
4 MОм |
400,0 кОм...3,9999 МОм |
±(0,04Zx + 10 е.м.р) |
2,3° |
параллельная |
|
|
400 кОм |
40,00 кОм...399,99 кОм |
±(0,015Zx + 4 е.м.р) |
0,9° |
параллельная |
|
|
40 кОм |
4,000 кОм...39,999 кОм |
±(0,01Zx + 2 е.м.р) |
0,6° |
параллельная |
|
|
4 кОм |
400,0 Ом...3,9999 кОм |
±(0,007Zx + 2 е.м.р) |
0,4° |
последовательная или параллельная |
|
|
400 Ом |
40,00 Ом...399,99 Ом |
±(0,007Zx + 2 е.м.р) |
0,4° |
последовательная |
|
|
40 Ом |
4,000 Ом...39,999 Ом |
±(0,01Zx + 5 е.м.р) |
0,6° |
последовательная |
|
|
4 Ом |
0,4000 Ом...3,9999 Ом |
±(0,03Zx + 10 е.м.р) |
1,7° |
последовательная |
|
|
0,4 Ом |
0,0000 Ом...0,3999 Ом |
±(0,07Zx + 20 е.м.р) |
- |
последовательная |
|
Zх – измеренное значение импеданса.
Комплект поставки:
- Измеритель RLC АМ-3128 - 1 шт.
- Адаптер питания - 1 шт.
- Кабель mini-USB - 1 шт.
- Измерительные кабели "банан" - "крокодил" (красный/черный) - 1 к-т.
- Калибровочная пластина - 1 шт.
- Эксплуатационный документ - 1 шт.
Общие сведения
Области применения
- Выборочный контроль качества на производственной линии.
- Входной контроль при приёмке партии.
- Тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах.
- Сортировка и отбор компонентов по параметрам.
- Лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании.
Основные преимущества
Измеряемые параметры:
- Первичные: R – активное электрическое сопротивление; C – электрическая емкость; L – индуктивность; Z – модуль полного сопротивления.
- Вторичные: D – тангенс угла диэлектрических потерь; Q – добротность; Θ – угол фазового сдвига.
- Напряжение испытательного сигнала 0,3 Вскз и 0,6 Вскз.
- Тестовые частоты: 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц.
- Эквивалентная схема: последовательная, параллельная.
- Время измерения: 1 раз/сек (SLOW), 2 раза/сек (MEDIUM), 4 раза/сек (FAST).
- Схема измерения: 2-проводная, 4-проводная.
- Способ калибровки: открытая, короткозамкнутая.
- Настраиваемый компаратор.
- Режим относительных измерений.
- Фиксация текущего, минимального, максимального и среднего значения.
