Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°;
базовая погрешность ± 0,1 %;
выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом;
тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА;
Δ-измерения (Δ, %);
режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.);
запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256),
графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик.,
Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°;
базовая погрешность ± 0,1 %;
выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом;
тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА;
Δ-измерения (Δ, %);
режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.);
запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256),
графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик.,
Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°;
базовая погрешность ± 0,1 %;
выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом;
тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА;
Δ-измерения (Δ, %);
режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.);
запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256),
графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик.,
Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°;
базовая погрешность ± 0,1 %;
выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом;
тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА;
Δ-измерения (Δ, %);
режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.);
запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256),
графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик.,
Измеряемые параметрыимпеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc)
Погрешность0,08%
Электрическое сопротивление (от)10 мОм
Электрическое сопротивление (до)100 МОм
Разрешение (R)0,01 мОм
Электрическая емкость (от)50 фФ
Электрическая емкость (до)1Ф
Разрешение (C)0,01 пФ
Индуктивность (от)10 нГн
Индуктивность (до)100 кГн
Разрешение (L)0,1 нГн
Частота тест сигнала10 Гц - 1 МГц
Диапазон частотНе фиксированный
Особенностипрецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей. Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12 В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала 10… 100Гц/ 1 кГц/ 10 кГц/ 100 кГц/ 1МГц (разрешение 0,1Гц/ 0,1Гц/ 0,05Гц/ 0,1Гц/ 1Гц/ 10Гц). Внутр. память (запись/ вызов) - 99 профилей настройки (setup)/48 программ тестирования (list). Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ) запись профилей, экранной инф, графиков и отсчетов. Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800x480, диаг. 18 см) – одновременная индикация до 4-х параметров
ИнтерфейсGPIB, LAN, RS-232, USB (2)
Уровень тест сигналаАС напряжение от 10 мВ…2 В (≤1 МГц)/ ток от 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом), 400 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень тест сигнала(DС) - напряжение – 1Впост./ ток 40 мА макс (Rвых=25 Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА
Измеряемые параметрыимпеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc)
Погрешность0,08%
Электрическое сопротивление (от)10 мОм
Электрическое сопротивление (до)100 МОм
Разрешение (R)0,01 мОм
Электрическая емкость (от)50 фФ
Электрическая емкость (до)1Ф
Разрешение (C)0,01 пФ
Индуктивность (от)10 нГн
Индуктивность (до)100 кГн
Разрешение (L)0,1 нГн
Частота тест сигнала10 Гц - 5 МГц
Диапазон частотНе фиксированный
ОсобенностиНепрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров
ИнтерфейсGPIB, LAN, RS-232, USB (2)
Уровень тест сигналанапряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА
Измеряемые параметрыимпеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэфф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc)
Погрешность0,08%
Электрическое сопротивление (от)10 мОм
Электрическое сопротивление (до)100 МОм
Разрешение (R)0,01 мОм
Электрическая емкость (от)50 фФ
Электрическая емкость (до)1Ф
Разрешение (C)0,01 пФ
Индуктивность (от)10 нГн
Индуктивность (до)100 кГн
Разрешение (L)0,1 нГн
Частота тест сигнала10 Гц - 10 МГц
Диапазон частотНе фиксированный
ОсобенностиНепрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров
ИнтерфейсGPIB, LAN, RS-232, USB (2)
Уровень тест сигналанапряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА
Измеряемые параметрыимпеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc)
Электрическое сопротивление (от)10 мОм
Электрическое сопротивление (до)100 МОм
Разрешение (R)0,01 мОм
Электрическая емкость (от)50 фФ
Электрическая емкость (до)1Ф
Разрешение (C)0,01 пФ
Индуктивность (от)10 нГн
Индуктивность (до)100 кГн
Разрешение (L)0,1 нГн
Частота тест сигнала10 Гц - 5 МГц
Диапазон частотНе фиксированный
Особенностипрецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом.
ИнтерфейсGPIB, LAN, RS-232, USB (2)
Уровень тест сигналаПерем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА
Измеряемые параметрыимпеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc)
Электрическое сопротивление (от)10 мОм
Электрическое сопротивление (до)100 МОм
Разрешение (R)0,01 мОм
Электрическая емкость (от)50 фФ
Электрическая емкость (до)1Ф
Разрешение (C)0,01 пФ
Индуктивность (от)10 нГн
Индуктивность (до)100 кГн
Разрешение (L)0,1 нГн
Частота тест сигнала10 Гц - 10 МГц
Диапазон частотНе фиксированный
Особенностипрецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом.
ИнтерфейсGPIB, LAN, RS-232, USB (2)
Уровень тест сигналаПерем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА